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标题: [综合] 国家制定并执行的集成电路术语与技术质量标准大全。 [打印本页]

作者: yazi007 时间: 2009-7-23 15:41 标题: 国家制定并执行的集成电路术语与技术质量标准大全。

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GB/T 2900.66-2004 电工术语半导体器件和集成电路
GB/T 13069-1991 半导体集成电路系列和品种数控机床用系列的品种
GB/T 15295-1994 电缆分配系统用混合集成电路高频宽带放大器系列和品种
GB/T 15295-94 电缆分配系统用混合集成电路高频宽带放大器系列和品种
GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分:总则
GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分：数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范
GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路
GB/T 18500.1-2001 半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路第一篇：线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
GB/T 18500.2-2001 半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路第二篇：线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细规范
GB/T 19403.1-2003 半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）
GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管
GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法
GB/T 16649.1-1996 识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性
GB/T 16649.1-2006 识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性
GB/T 16649.2-1996 识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置
GB/T 16649.2-2006 识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置
GB/T 16649.3-1996 识别卡带触点的集成电路卡第3部分:电信号和传输协议
GB/T 16649.3-2006 识别卡带触点的集成电路卡第3部分:电信号和传输协议
GB/T 16649.6-2001 识别卡带触电的集成电路卡第6部分：行业间数据元
GB/T 16649.7-2000 识别卡带处点的集成电路卡第7部分：用于结构化卡查询语言（SCQL）的行业间命令
GB/T 17553.1-1998 识别卡无触点集成电路卡第1部分:物理特性
GB/T 17553.2-2000 识别卡无触点集成电路卡第2部分：耦合区域的尺寸和位置
GB/T 17554.3-2006 识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
GB/T 18349-2001 集成电路/计算机硬件描述语言Verilog
GB/T 18392-2001 中华人民共和国组织机构代码证集成电路（IC）卡技术规范
SJ/T 10308-1992 半导体集成电路陶瓷扁平外壳详细规范
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
SJ/T 10428-1993 ５４／７４ＨＣ、５４／７４ＨＣＴ、５４／７４ＨＣＵ系列高速ＣＭＯＳ数字集成电路空白详细规范（可供认
SJ/T 10607-1994 半导体集成电路门阵列设计总则
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
SJ/T 11231-2001 集成电路卡通用规范第5部分：带触点的IC卡模块
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 11166-1998 集成电路卡（ＩＣ卡）插座总规范
SJ/T 11220-2000 集成电路卡通用规范第1部分：卡片基本规范
SJ/T 11221-2000 集成电路卡通用规范第2部分：行业间交换用命令、行业间数据元及注册号规定
SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范第3部分：测试方法
SJ/T 11230-2001 集成电路卡通用规范第4部分：接口设备基本应用编程接口规范
SJ/T 11232-2001 集成电路卡通用规范第6部分：安全规范
SJ/T 10243-1991 微波陶瓷介质材料微波集成电路用氧化铝陶瓷基片
SJ/T 10454-1993 厚膜混合集成电路多层布线用介质浆料
SJ/T 10455-1993 厚膜混合集成电路用铜导体浆料
SJ/T 10456-1993 混合集成电路用被釉钢基片
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SJ/T 10427.1-93 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
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SJ/T 10427.2-93 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
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GB/T 22351.3-2008 识别卡无触点的集成电路卡邻近式卡第3部分
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SJ/T 10042-1991 电子元器件详细规范半导体集成电路CT54LS00／CT74LS00型,四2输入与非门
SJ/T 10044-1991 电子元器件详细规范半导体集成电路CT54LS273／CT74LS283型4位二进制超前进位全加器
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作者: yazi007 时间: 2009-8-7 10:12 标题: 希望大家有更新更好的标准也请分享，谢谢。

希望大家有更新更好的标准也请分享，谢谢。

作者: yazi007 时间: 2010-1-6 11:15

看帖要顶啊

作者: 后来居上 时间: 2011-3-28 15:36

谢谢分享！！！

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